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光學探測三次元: M-DUO

雙CCD高精度型
特色:
1.  無機械結構測量干涉。
2. 無機械磨損誤差。
3. 環境因素影響小。
4. 雙CCD高精度。
5. 長測桿,可測量隱藏點與深孔。
6. 測量範圍大:1.5M-15M。
7. 可單CCD使用(M-SOLO)。
https://www.youtube.com/watch?v=bvmI8rL-zBg

 

METRONOR DUO
Dual camera electro-optical portable coordinate measuring system
• PORTABLE 3D MEASUREMENTS
• EXTREMELY ACCURATE
• BEST-IN-CLASS PRICE/PERFORMANCE
• EASY TO USE
• LIGHT-WEIGHT – 17 KG (38 LBS)
• IDEAL FOR ROUGH ENVIRONMENTS
Accuracy : ± 0.02+L/70000(mm)
Range : 1.5-15M

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